14. Juli 2021
Englisch, Abkürzung für atomic force microscopy, Rasterkraftmikroskopie. Die AFM-Spitze tastet die Probe Zeile für Zeile ab. Durch Abstoßung zwischen Nadel und Probe wird eine Bewegung der Spitze detektiert. Hieraus kann ein dreidimensionales Abbild simuliert werden.
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